冠层是指林木枝叶的稠密顶层，研究冠层结构可获知冠层中光线穿透情况、冠层生产力等基础数据。在农业生产中，作物群体结构是影响冠层光分布的重要因素。合理的群体结构、良好的冠层内光辐射分布以及较高的光能利用率与作物高产密不可分。生产中常通过栽培措施调整株型和叶片的方位等来影响冠层结构，从而改善光的有效截获。利用冠层分析仪便可快速分析冠层受光状况，为植物冠层研究、农业生产提供基础的数据资料。

农业生产中，种植密度是影响群体冠层结构的重要参数，在一定的密度范围内群体的叶面积、光合势、地上部干物质积累和冠层光截获量均随密度的增加而增加。但是随密度的进一步升高，作物生育后期过高的冠层高光戴获率，将削弱中下部叶片的光照条件，降低群体生产能力。冠层分析仪能测量冠层叶面积指数、叶片平均倾角、散射辐射透过率、PAR、不同太阳高度角下的直射辐射透过率、叶面积密度的方位分布等，它采用图像分析法，通过摄像头和专用分析软件来对冠层的有效图像区域进行分析、测量（分区分析），保证测量数据更加精确。

另外，TOP-1200型冠层分析仪通过光谱分析，耦合作物生长监测诊断模型，可获取作物生长信息，并诊断作物氮素匮缺情况。可测量作物冠层植被指数RVI和NDVI，包括叶层氮含量、叶层氮积累量、叶面积指数、叶干重等生长指标。它们的应用，为植物冠层研究提供了很大的助力。

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